Advanced BAP Mem Acc

Advanced BAP在连接至BAP中的memory BIST hw默认操作模式下实现了某些功能的覆盖。取消控制器顺序配置中的移位周期设置后能够显著降低了测试时间。

该协议允许BAP内存与memory BIST控制器之间的交互功能得以配置。在ATE环境下的制造测试以及通过Tessent MissionMode Controller执行的内部测试中通常采用该方法进行配置。在internal test中采用MissionMode Controller进行操作（注：此处可能存在标点符号错误），旨在启用所有接入到IJTAG网络的仪器设备，并特别适用于memory BIST控制器的经典解决方案。当生成PatternSpec时，默认支持全部选项设置。

除了通过连接到BAP系统的信号执行memory测试来直接访问interface之外，
而非利用IJTAG网络中的顺序shift机制来配置数据和结果。
直接访问端口采用了基于低延迟协议的方法来配置MemoryBIST控制器，
并采用该协议以执行Go/NoGo测试同时监视pass/fail状态，
但无法提供详细的诊断信息以及其他相关操作的模式。

BAP Direct Access Interface Feature Description

每一个MBIST DftSpecification insertion pass负责创建BAP