DFT - 关于芯片测试的初步认识 初步探索

DFT - 对芯片测试的理解（一） 初识

总结—>详细论述和分析

为何需要DFT

在芯片制造流程中，可能产生多种物理层面的缺陷。

DFT的核心目的在于评估芯片的品质，用以判断在制造环节中是否存在因物理工艺造成的损坏问题。其关注点并非芯片功能是否正常运作，而是集中于芯片内部线路等结构是否按照设计正确连接。

早期设想是直接开发一套功能测试程序，通过运行该程序的结果来判断芯片是否完好。这种方式的优势在于无需在芯片内部添加DFT模块，从而简化整体设计，并减少对MUX等逻辑资源的需求。然而缺点同样明显：测试脚本需依据芯片的功能进行编写，复杂度较高；若要确保覆盖所有逻辑节点，则需要脚本具备极高的完备性，这在实际操作中几乎难以实现。

由此可见，在当前大规模SOC架构背景下，仅依赖测试脚本来检测芯片质量将比采用DFT更加耗时且效率低下。此外，所编写的测试脚本难以确保对所有逻辑节点进行全面覆盖。因此，这也凸显了引入DFT的必要性。

stuck at Fault -- 适用于低速测试

用于模拟器件之间连接出现的短路或断路故障情况。stuck-at 1：将1信号施加至pin A端口，使信号a被屏蔽；stuck-at 0：将0信号施加至pin Y端口，使Y输出始终为0。

At_Speed Fault – 适用于高速测试