DFT - 深入探讨芯片测试（二）

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DFT - 对芯片测试的理解（二）详解

参考： https://www.docin.com/p-2014360649.html

The basic view of DFT scan chain

这幅图具有良好的可理解性，在Pre-DFT阶段时将DFF替换为scan-FF以实现电路三种模式切换。

Function mode：即chip正常的工作模式。此时SE=0。

当进入扫描模式时：此时SE=1。启动扫描过程并注入预期的SI序列。从而使得每个scan cell都有一个明确的赋值结果。

然后切换到function模式，在D处输入预期的序列，并与原有单元格内的数值进行运算，从而得到一系列特定的结果

Capture mode：在pulse clk下依次移出cell中的值，在输出捕获，进行检测。

注：其中椭圆为组合逻辑，如与或非门。

参考资料：

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