TMS320C6678裸机案例测试：KTE

在上一章节中，我们介绍了针对C6678裸机环境下的首个测试案例：led_flash案例。

今日，笔者将以TL6678-EasyEVM评估板为具体实例，详细解析一款依托TI KeyStone架构、面向C6000系列TMS320C6678八核C66x定点与浮点高性能处理器所构建的高端多核DSP评估平台，在裸机环境下进行的led_flash测试案例。

图 1

图 2

1. 案例说明

该案例的主要作用在于，通过检测SW4按键（对应引脚为DSP_GPIO_00）的GPIO输入信号状态，实现对LED1（对应引脚为DSP_GPIO_04）发光状态的调控。具体而言，当按键被按下时，LED1灯将被点亮；而当按键释放后，LED1灯则会熄灭。

将相关工程文件导入至CCS开发环境，并完成编译以生成镜像文件。随后，将生成的镜像加载至Core0核心中并启动运行，即可借助评估板上的SW4