Mentor-dft 学习笔记 day30-pattern generation for boundary scan circuit & macro test

边界扫描电路的模式生成 关于Dofile

以下dofile中包含一系列命令，可用于在ATPG工具中设定扫描数据。

add_clocks 0 tck

add_scan_groups grp1 proc_fscan

add_scan_chains chain1 grp1 tdi tdo

add_input_constraints tms -c0

add_input_constraints trstz -c1

set_capture_clock TCK -atpg

tck信号被定义为时钟，因其用于捕获数据。存在一个扫描组grp1，该组使用proc_fscan测试过程文件。同时，存在一个扫描链chain1，其归属于上述扫描组。该扫描链的输入与输出端口分别为tdi和tdo。所列出的引脚约束仅在ATPG阶段将信号限制为特定值，而在测试程序执行期间则不进行此类限制。因此，在ATPG过程中，tms信号被限定为0（以确保模式生成的准确性），而在测试程序运行期间，则允许信号转换至TAP控制器的状态机中用于测试的相关状态。这概括了基本的扫描测试流程：

1. 初始化扫描链。
2. 应用PI值。
3. 测量PO值。
4. 触发捕获时钟脉冲。
5. 释放扫描链内容。

在第2步中，tms必须被限定为0，以便当触发捕