在调试6678EVM K1_STK_v1.1例程中的GE_test时出现DDR3 level校准失败、STATUS=0x40000064的情况，请提供解决方法

在调试K1_STK_v1.1例程中的GE_test模块时，所采用的开发平台为TMDSEVM6678LE硬件板。

最初运行过程中持续出现DDR3 leveling失败的错误提示，状态码显示为0x40000064。

起初误以为该问题源于DDR相关配置存在缺陷。

随后发现已引入gel文件并对DDR进行了初始化操作。

因此将代码中KeyStone_DDR_init (66.66667, 20, 1, NULL);这一调用语句进行注释处理，转而直接依赖gel文件实现，最终问题得以解决。

  //DDR init 66.66667*20/1= 1333

    
 	//KeyStone_DDR_init (66.66667, 20, 1, NULL);//将这一句注释掉
    
    
    
    

总而言之，只需将代码中DDR3初始化的部分进行注释处理，并引入CCS自带的gel文件即可完成操作。

成功运行的console界面如下：

 [C66xx_0] JTAG ID= 0x1009e02f. This is C6678/TCI6608 devic