卷积操作、反卷积操作、上采样操作(插值法)
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文章结构概述
- 卷积运算(Convolution)
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反向卷积(Transposed Convolution)
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填充值设为0,步长设为1
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填充值设为n(n≥1),步长设为1
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- 半填充(same padding)
- 完全填充(full padding)
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填充值设为0,步长设为m(m≥2)
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填充值设为n(n≥1),步长设为m(m≥2)
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最通用的形式
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上采样操作(UpSample, Interpolation)
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卷积(Convolution)
【卷积的相关内容在笔者先前的blog中已有详述,此处不再赘述。仅提供基于卷积输入计算输出尺寸的公式。
假设输入至卷积层的数据尺寸为(B, C_{in}, i_{H}, i_{W}, i_{D}),其中分别对应Batch size、Input Channel、Input Height、Input Width以及Input Depth。卷积层所采用的卷积核尺寸为(k_{H}, k_{W}, k_{D}),填充参数为(p_{H}, p_{W}, p_{D}),步长参数为(s_{H}, s_{W}, s_{D})。那么输出数据的尺寸可表示为$(B, C_{out}, o_{H}, o_{W}, o_
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