Mentor-dft 学习笔记 day 22 Timing on Transition Delay

Transition Delay 测试的时序安排

针对 transition delay 的测试过程，该工具会从测试程序文件中提取时序信息。该文件用于描述扫描电路的操作流程，用户可以选择手动构建扫描电路，或者在将扫描电路集成至设计后，由 Tessent scan 自动完成扫描电路的生成。测试程序文件内包含了基于周期的指令及时间定义，这些内容用于指导 ATPG 工具在设计中如何操作扫描结构。

在测试程序文件中，时间表是一种用于确定每个周期内所有事件边缘位置的机制。如 day21 所示，在宽边测试中，慢速周期被应用于数据移位（包括加载与卸载周期），而快速周期则用于其他操作。图 8-15 展示了添加了示例时序信息后的相同图表。

当前图表呈现了在名为tp_slow的时间安排中所设定的slow shift cycles 的400纳秒周期，同时展示了在名为tp_fast的时间安排中定义的fast launch and capture cycles 的40纳秒周期。以下列举了与图8-15中时间相对应的示例时间表及对应程序。为确保表述简洁，这些节选内容并未涵盖完整的测试流程。一般情况下